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一、单选题(共 10 道试题,共 50 分。)V 1.
在debye照相法中,不受底片收缩影响的底片安装方法是( )。
A.
正装
B.
反装
C.
不对称
标准资料:C
2.
用CuKαX射线得到了硅(fcc,a=0.5438nm)的衍射花样, l CuKα=0.1541nm,
其第三条衍射线的衍射角为( )。
A.
14.2°
B.
23.65°
C.
28.06°
D.
34.59°
标准资料:B
3.
X射线衍射时滤波的目的是( )。
A.
避免荧光辐射
B.
获得K系单色
C.
防止光电效应
标准资料:B
4.
在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做( )。
A.
二次电子
B.
背散射电子
C.
俄歇电子
标准资料:A
5.
吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小,吸收电子( )。
A.
越多
B.
越少
C.
不变
标准资料:A
6.
电子枪中给电子加速的称为( )。
A.
阳极
B.
阴极
C.
栅极
标准资料:A
7.
具有fcc结构晶体的(100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(311)对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上,而晶面( )将出现反射。
A.
(311)
B.
(200)
C.
(210)
D.
A和B。
标准资料:D
8.
有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生( )衍射线。
A.
三条
B.
四条
C.
五条
D.
六条。
标准资料:C
9.
由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的像差,称为( )。
A.
球差
B.
像散
C.
色差
标准资料:A
10.
对样品进行表面形貌分析时应使用( )。
A.
X射线衍射(XRD)
B.
透射电镜(TEM)
C.
扫描电镜(SEM)
标准资料:C
二、判断题(共 10 道试题,共 50 分。)V 1. 在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。
A. 错误
B. 正确
标准资料:B
2. 透射电镜图像的衬度与样品成分无关。
A. 错误
B. 正确
标准资料:A
3. 面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射,而 H+K+L 为奇数不出现反射。
A. 错误
B. 正确
标准资料:A
4. 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。
A. 错误
B. 正确
标准资料:A
5. 原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。
A. 错误
B. 正确
标准资料:B
6. X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。
A. 错误
B. 正确
标准资料:B
7. 布拉格方程的物理意义是指原子面对X射线的反射并不是任意的,只有当λ、θ和d三者之间满足此方程时才能发生反射。
A. 错误
B. 正确
标准资料:B
8. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
A. 错误
B. 正确
标准资料:B
9. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。
A. 错误
B. 正确
标准资料:B
10. 背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。
A. 错误
B. 正确
标准资料:B
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